报告题目: In-situ measurements over large Q-space to study the evolution of thin films prepared by RF sputter deposition
报告人：Peter Walter研究员
LCLS at SLAC Stanford University
Peter Walter研究员在德国Aachen大学获得博士学位，一直从事同步辐射技术方法研究工作，主要研究方面：同步辐射技术在薄膜材料中的应用。目前在美国斯坦福大学工作，从事同步辐射技术在薄膜材料中的应用。近3年来，在国际期刊上发表论文15余篇。
主持人：我院新结构材料实验室王晓东副教授
报告地点：玉泉校区，教六-231房间
报告时间：2017年3月27日上午9：30
联系人：王晓东电话： 87952107
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